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XR4 X-ray Einschub mit Kupfer-Röntgenröhre

Artikel-Nr.: 09057-51 | Typ: Geräte & Zubehör

Studenten
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Funktion und Verwendung

Justierte Kupfer (CU) Röntgenröhre in einem Stahlblechgehäuse mit Tragegriff für den betriebsbereiten Einsatz in der XR 4.0 expert unit. Mit Griff, mechanischer Verriegelung und zwei Schaltstiften, die die entsprechenden Sicherheitsschalter des Grundgeräts nur dann auslösen, wenn das Steckmodul korrekt eingesetzt ist.

Vorteile

  • justierte Röhren mit Schnellwechseltechnik
  • Berührungsschutz vor heißen Teilen
  • Gehäuse mit Klinkensperre und 2 Sicherheitskontaktstiften, die nur bei korrektem Einbau des Einschubs den Röhrenbetrieb freigeben.

Ausstattung und technische Daten

  • Charakter. Röntgenlinien:
    • K-alpha: 8,03 keV; (154,2 pm)
    • K-beta: 8,90 keV; (139,2 pm)
  • Anodenwinkel 19°
  • Max. Betriebswerte 1 mA/35 kV-DC
  • Prüfspannung 50 kV
  • Maße (26,7x14,8x20,3) cm
  • Masse 4,3 kg
  • Incl. Staubschutzhaube

Gerätename
Artikel-Nr.:
Digitale Lerninhalte
Zählrohrcharakteristik
Artikel-Nr.: P2540015
Radiographische Untersuchung von Objekten
Artikel-Nr.: P2540025
Qualitative Untersuchung der Absorption von Röntgenstrahlung
Artikel-Nr.: P2540035
Ionisierender Effekt von Röntgenstrahlung
Artikel-Nr.: P2540045
Charakteristische Röntgenstrahlung von Kupfer
Artikel-Nr.: P2540105
Intensität der charakteristischen Röntgenstrahlung als Funktion des Anodenstroms und der Anodenspannung
Artikel-Nr.: P2540405
Monochromatisierung von Kupfer-Röntgenstrahlung
Artikel-Nr.: P2540605
Verschiebungsgesetz von Duane-Hunt und Plancksches Wirkungsquantum
Artikel-Nr.: P2540905
Charakteristische Röntgenlinien unterschiedlicher Anodenmaterialien / Moseleysches Gesetz
Artikel-Nr.: P2541005
Absorption von Röntgenstrahlen
Artikel-Nr.: P2541105
K- und L-Absorptionskanten von Röntgenstrahlen / Moseleysches Gesetz und die Rydberg-Konstante
Artikel-Nr.: P2541205
Untersuchung der Struktur von NaCl-Einkristallen mit unterschiedlicher Orientierung
Artikel-Nr.: P2541305
Untersuchung kubischer Kristallstrukturen mit Röntgenstrahlen / Debye-Scherrer-Pulververfahren
Artikel-Nr.: P2541405
Untersuchung hexagonaler Kristallstrukturen mit Röntgenstrahlen / Debye-Scherrer-Pulververfahren
Artikel-Nr.: P2541505
Untersuchung von Kristallstrukturen mit Röntgenstrahlen / Laue-Verfahren
Artikel-Nr.: P2541605
Untersuchung von Kristallstrukturen: Laue-Verfahren mit digitalem Röntgensensor (XRIS)
Artikel-Nr.: P2541606
Compton-Streuung von Röntgenstrahlen
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Röntgendosimetrie
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Bestimmung der Länge und Lage eines nicht sichtbaren Objekts
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Artikel-Nr.: P2542105
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Artikel-Nr.: P2542305
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Beugungsmessungen zur Bestimmung der Intensität der Debye-Scherrer-Reflexe mit einer kubischen Pulverprobe (Bragg-Brentano-Geomterie)
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Röntgenfluoreszenzanalyse - Kalibrierung des Röntgenenergiedetektors
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Eigenfluoreszenzstrahlung des Röntgenenergiedetektors
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Compton-Effekt - energiedispersive Direktmessung
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Grundlagen der Röntgen- strahlenschwächung und kontrast
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Grundlagen der Strahlenintensität
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Artikel-Nr.: P2550405
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Hounsfield-Einheit
Artikel-Nr.: P2550905

Notwendiges Zubehör

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Gerätename
Artikel-Nr.:
XR 4.0 expert unit Röntgengerät, 35 kV
Artikel-Nr.: 09057-99

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