Cantilever, magnetisch, 10 Stck, für compact AFM

Artikel-Nr.: 09712-00 | Typ: Geräte & Zubehör

Lehrer/Professoren , Studenten
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Funktion und Verwendung

Cantilever für die Messungen von magnetischen Strukturen mit dem Rasterkraftmikroskop (09700-99).

Ausstattung und technische Daten

  • für Messungen von magnetischen Proben (Magnetic Force Microscopy)
  • Material: Si, monolithisch
  • Reflexbeschichtung: Aluminium
  • Beschichtung probenseitig: magnetisch (Pt/Cr)
  • Halterung: 3,4 x 1,6 x 0,3 mm, mit Justierrillen
  • Resonanzfrequenz: 75 kHz
  • Federkonstante: 3 N/m
  • Länge: 0,225mm
  • Breite: 0,038mm
  • Spitzenradius: kleiner 60nm
  • 10 Stück
  • Gewicht: 0,04 kg
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