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Datenblatt


Erweiterungspaket Materialanalyse, für compact AFM

Artikel-Nr.: 09701-00
Funktion und Verwendung

Softwarepaket zur Erweiterung der Messmodi des Rasterkraftmikroskopes (09700-99) mit Force Modulation, Spreading Resistance und Leitfähigkeitsmessungen speziell für die Materialanalyse. Inklusive Proben und passenden Cantilevern.

Ausstattung und technische Daten

  • Software Paket / Aktivierungsschlüssel für:
  • Leitfähigkeitsmessungen
  • Spreading Resistance
  • Force Modulation
  • Strom-Spannung-Spektroskopie
  • Set aus 3 Proben:
  • Probe für MFM (Magnetic Force Microscopy) - Digital Data Storage (DDS) Tape
  • Probe für Spreading Resistance - Graphit (HOPG)
  • Probe für Phasenkontrast - PS/PMMA Filme
  • Set aus 8 Cantilevern:
  • 4 x Multi75E-G (leitfähig beschichtet mit Pt/Cr, Dynamic Force Modus) für Force Modulation, EFM und Spreading Resistance, Leitfähigkeitsmessungen
  • 4 x MFMR (magnetisch beschichtet coating, Dynamic Force Mode) für MFM
  • die Bedienungsanleitung und erste Experimente finden sich im Handbuch, welches dem AFM beiliegt bzw. sind über das Help Panel im Softwarepaket measure nano als pdf verlinkt
  • die PS/PMMA Probe kann auch für Kraftsprektroskopie und Manipulation/Lithographie (Scratching) verwendet werden (siehe AFM 09700-99 bzw Erweiterungspaket Spektroskopie und Manipulation (09702-00))
  • Beschreibungen in englischer Sprache

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