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Erweiterungspaket Spektroskopie und Manipulation, für compact AFM

Artikel-Nr.: 09702-00
Funktion und Verwendung

Software-Paket zur Erweiterung der Messmodi des Rasterkraftmikroskopes (09700-99) mit fortgeschrittener Spektroskopie, Lithographie, Manipulation und Nutzerschnittstelle (Scripting via Visual Basic, LabView, etc.). Inklusive Proben und Cantilevern.

Ausstattung und technische Daten

  • Software packet / Aktivierungssschlüssel für:
  • Strom-Abstands-Spektroskopie
  • Fortgeschrittene Spectroscopie (z.B. Spektroskopiekurven mit max. 1024 points, Stop bei spezif. Endwert, Pause vor und nach der Messung, etc.)
  • Lithografie (Strukturen schreiben (Scratching, Oxidation, ...) auf Basis von Vektor- und Bitmap-Grafiken)
  • Manipulation (Oxidation, Zerschneiden von Nanopartikel, Bewegen und Anordnen von Nanopartikeln)
  • Erweiterung mit Nutzerschnittstelle zum Scripting (AFM kann extern angesteuert werden durch z.B. Visual Basic, Lab View, etc.)
  • Set von 2 Proben:
  • Probe für Scratching- CD-ROM Stück
  • Probe für Manipulation - Glas Nanopartikell (incl. Silica Kolloid)
  • Set von 8 Cantilevern:
  • 4 x 190TapAl G (Dynamic Force Mode) für Spektroskopie und Manipulation
  • 4 x CONTR (Static Force Mode) für Lithografie und Manipualtion
  • Beschreibung zur Präparation und Abbildung von Glas Nanopartikeln
  • Die Beschreibung zur Lithografie, Manipulation und Nutzerschnittstelle finden sich in der Bedienungsanleitung des AFM (in gedruckter Form als Teil des Gerätes bzw als pdf verlinkt im Software-Paket measure nano (Help Panel). Zusätzlich ist eine separate Beschreibung zum Scripting als pdf verlinkt.
  • Beschreibungen in englischer Sprache

3.790,00 EUR