Untersuchung von Kristallstrukturen: Laue-Verfahren mit digitalem Röntgensensor (XRIS)

Prinzip

Laue-Diagramme werden bei Durchstrahlung von Einkristallen mit polychromatischen Röntgenstrahlen erzeugt. Die Methode wird hauptsächlich zur Bestimmung von Kristallsymmetrien und zur Orientierung von Kristallen benutzt. Durchstrahlt man einen LiF-Einkristall mit polychromatischer Röntgenstrahlung erhält man ein charakteristisches Beugungsmuster. Dies wird mit dem digitalen Röntgensensor XRIS fotografiert und ausgewertet.

Aufgaben

1. Nehmen Sie das Laue-Diagramm eines LiF-Einkristalls mit Hilfe des digitalen Röntgensensors auf.
2. Ordnen Sie die Laue-Reflexe den verschiedenen Netzebenen des Kristalls zu.

Verwandte Themen

• Charakteristische Röntgenstrahlung
• Bravais-Gitter
• Reziproke Gitter
• Millersche-Indizes
• Atomfaktor
• Strukturfaktor
• Bragg-Streuung
  

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