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Funktion und Verwendung
Software-Paket zur Erweiterung der Messmodi des Rasterkraftmikroskopes (09700-99) mit fortgeschrittener Spektroskopie, Lithographie, Manipulation und Nutzerschnittstelle (Scripting via Visual Basic, LabView, etc.). Inklusive Proben und Cantilevern.
Ausstattung und technische Daten
- Software-Paket / Aktivierungssschlüssel für:
- Strom-Abstands-Spektroskopie
- Fortgeschrittene Spectroscopie (z.B. Spektroskopiekurven mit max. 1024 points, Stop bei spezif. Endwert, Pause vor und nach der Messung, etc.)
- Lithografie (Strukturen schreiben (Scratching, Oxidation, ...) auf Basis von Vektor- und Bitmap-Grafiken)
- Manipulation (Oxidation, Zerschneiden von Nanopartikel, Bewegen und Anordnen von Nanopartikeln)
- Erweiterung mit Nutzerschnittstelle zum Scripting (AFM kann extern angesteuert werden durch z.B. Visual Basic, Lab View, etc.)
- Set von 2 Proben:
- Probe für Scratching- CD-ROM Stück
- Probe für Manipulation - Glas Nanopartikell (incl. Silica Kolloid)
- Set von 8 Cantilevern:
- 4 x 190TapAl G (Dynamic Force Mode) für Spektroskopie und Manipulation
- 4 x CONTR (Static Force Mode) für Lithografie und Manipualtion
- Beschreibung zur Präparation und Abbildung von Glas Nanopartikeln
- Die Beschreibung zur Lithografie, Manipulation und Nutzerschnittstelle finden sich in der Bedienungsanleitung des AFM (in gedruckter Form als Teil des Gerätes bzw als pdf verlinkt im Software-Paket measure nano (Help Panel). Zusätzlich ist eine separate Beschreibung zum Scripting als pdf verlinkt.
- Beschreibungen in englischer Sprache
Name
Dateiname
Dateigröße
Dateityp
(en) Content of delivery
0970200a_e .pdf
Dateigröße 0.13 Mb
pdf
(en) Handling Glass Beads
0970200b_e .pdf
Dateigröße 0.28 Mb
pdf
(de) Kompakt Rasterkraft-Mikroskop, 2 Seiten
00277_01_afm_deutsch .pdf
Dateigröße 3.49 Mb
pdf
(en) Product flyer
00277_02_afm_englisch .pdf
Dateigröße 0.51 Mb
pdf
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