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Untersuchung von Kristallstrukturen:  Laue-Verfahren mit digitalem Röntgensensor (XRIS)

Untersuchung von Kristallstrukturen: Laue-Verfahren mit digitalem Röntgensensor (XRIS)

Artikel-Nr.: P2541602

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Prinzip

Laue-Diagramme werden bei Durchstrahlung von Einkristallen mit polychromatischen Röntgenstrahlen erzeugt. Die Methode wird hauptsächlich zur Bestimmung von Kristallsymmetrien und zur Orientierung von Kristallen benutzt. Durchstrahlt man einen LiF-Einkristall mit polychromatischer Röntgenstrahlung erhält man ein charakteristisches Beugungsmuster. Dies wird mit dem digitalen Röntgensensor XRIS fotografiert und ausgewertet.


Aufgaben

  1. Nehmen Sie das Laue-Diagramm eines LiF-Einkristalls mit Hilfe des digitalen Röntgensensors auf.
  2. Ordnen Sie die Laue-Reflexe den verschiedenen Netzebenen des Kristalls zu.


Verwandte Themen

  • Charakteristische Röntgenstrahlung
  • Bravais-Gitter
  • Reziproke Gitter
  • Millersche-Indizes
  • Atomfaktor
  • Strukturfaktor
  • Bragg-Streuung

Software inclusive. Computer nicht Teil des Lieferumgangs.

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p2541602e.pdf Experiment guide, Englisch 665.01 KB

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