Bestimmung der Beugungsintensität am Schlitz und Doppelschlitz

	Artikel-Nr.: P2230500

Prinzip

Spalt und Doppelspalt-Systeme werden mit Laserlicht beleuchtet. Die entsprechenden Beugungsmuster werden mittels einer Photodiode, die verschoben werden kann, in Abhängigkeit von Ort und Intensität gemessen.

Aufgaben

Bestimmung der Intensitätsverteilung der Beugungsbilder durch zwei Schlitze von verschiedenen Breiten. Darüber hinaus sind die Intensitätbeziehungen zwischen den Höchstwerten zu bewerteten.
Bestimmung von Ort und Intensität der Extremwerte der Beugungsmuster durch zwei Doppel-Schlitze mit der gleichen Breite, aber unterschiedlichen Abständen zwischen den Schlitzen. Die Breite der Schlitze und die Abstände der Schlitze sind zu bestimmen.

Lernziele

Huygens Prinzip
Interferenz
Fraunhofer-und Fresnel-Beugung
Kohärenz
Laser

(Bitte beachten: Versuchsbeschreibung nur in englischer Sprache erhältlich)

Materialliste (Auszug)	Artikel	Menge
Laser, He-Ne, 1.0 mW, 230 V AC	08181-93	1
Si-Fotodetektor mit Verstärker	08735-00	1
Verschiebeinrichtung, horizontal	08713-00	1
Control Unit für Si-Fotodetektor	08735-99	1
Optische Profilbank, I = 1500 mm	08281-00	1
Scheibenhalter, 50 mm x 50 mm	08041-00	1
Digitalmultimeter 2010	07128-00	1
Linsenhalter	08012-00	2
Reiter für optische Profilbank, h = 30 mm	08286-01	5
Fuß für optische Profilbank, justierbar	08284-00	2
Linse in Fassung, f = + 20 mm	08018-01	1
Linse in Fassung, f = +100 mm	08021-01	1
Blende mit 3 Einfachspalten	08522-00	1
Blende mit 4 Doppelspalten	08523-00	1
Adapter, BNC-Stecker/4 mm-Sicherheitsbuchsen	07542-26	1
Verbindungsleitung, 32 A, 750 mm, rot	07362-01	1
Verbindungsleitung, 32 A, 750 mm, blau	07362-04	1
TESS expert CD-ROM Laboratory Experiments Physics, Chemistry, Biology, Applied Sciences	16502-42	1