Untersuchung von Kristallstrukturen mit Röntgenstrahlen / Laue-Verfahren

	Artikel-Nr.: P2541601

Prinzip
Laue-Diagramme werden bei Durchstrahlung von Einkristallen mit polychromatischen Röntgenstrahlen erzeugt. Die Methode wird hauptsächlich zur Bestimmung von Kristallsymmetrien und zur Orientierung von Kristallen benutzt. Durchstrahlt man einen LiF-Einkristall mit polychromatischer Röntgenstrahlung erhält man ein charakteristisches Beugungsmuster. Dies wird fotografiert und ausgewertet.

Aufgaben

Nehmen Sie das Laue-Diagramm eines LiF-Einkristalls mit Hilfe eines Films auf.
Ordnen Sie die Laue-Reflexe den verschiedenen Netzebenen des Kristalls zu.

Verwandte Themen

Charakteristische Röntgenstrahlung
Bravais-Gitter
Reziproke Gitter
Millersche-Indizes
Atomfaktor
Strukturfaktor
Bragg-Streuung

Materialliste (Auszug)	Artikel	Menge
XR 4.0 expert unit Röntgengerät, 35 kV	09057-99	1
XR 4.0 X-ray Einschub mit Wolfram-Röntgenröhre	09057-80	1
XR 4.0 X-ray Lithiumfluorid-Einkristall im Halter (LiF)	09056-05	1
XR 4.0 X-ray Filmhalter	09057-08	1
XR 4.0 X-ray Optische Bank	09057-18	1
X-ray Röntgenfilm	09058-23	1
XR 4.0 X-ray Kristallhalter für Laue-Aufnahmen	09058-11	1
XR 4.0 X-ray Blendentubus d = 1 mm	09057-01	1
Reiter für optische Profilbank, h = 30 mm	08286-01	1
XR 4.0 X-ray Röntgen-Entwickler für 4,5 l	06696-20	1
XR4.0 X-ray Röntgen-Fixiersalz für 4,5 l	06696-30	1
Messschieber (Schieblehre), Kunststoff	03011-00	1
Laborschale (PP), 180 x 240 mm, weiß	47481-00	3
X-ray Filmtüte für Röntgenfilme, 10 Stück	09058-22	1
TESS expert CD-ROM Laboratory Experiments Physics, Chemistry, Biology, Applied Sciences	16502-42	1