Beugung am Spalt und Heisenbergsche Unschärferelation

	Artikel-Nr.: P2230100

Prinzip

Unter Beugung versteht man die Ablenkung von Wellen an einem Hindernis. Zur Beugung kommt es durch die Entstehung neuer Wellen am Hindernis (Spalt, Gitter, Fangspiegel usw.) und deren Interferenz. Beugung am Spalt: Teilt man in Gedanken ein Lichtbündel, das an einem Einfachspalt in eine bestimmte Richtung abgelenkt wird, in zwei Hälften, können sich diese beiden Anteile des Lichtbündels konstruktiv oder destruktiv überlagern. An einem Spalt ergibt sich so wieder eine Reihe von Beugungsreflexen.

Aufgaben

Zur Messung der Intensitätsverteilung des Fraunhofer-Beugungsbilds an einem einzigen Schlitz (z. B. 0,1 mm). Die Höhen der Maxima und die Lage der Maxima und Minima werden nach der Kirchhoff- Beugung Formel berechnet und mit den gemessenen Werten verglichen.
Um die Unsicherheit des Schwungs aus dem Beugungsmuster der einzelnen Spalten von unterschiedlicher Breite zu berechnen und Heisenbergsche Unschärferelation zu bestätigen.

Lernziele

Beugung
Beugungsunsicherheit
Kirchhoff Beugungs- Formel
Messgenauigkeit
Unsicherheit der Lage
Unsicherheit des Impulses
Welle-Teilchen-Dualismus
De-Broglie-Beziehung

(Bitte beachten: Versuchbeschreibung nur in englischer Sprache erhältlich)

Materialliste (Auszug)	Artikel	Menge
Laser, He-Ne, 1.0 mW, 230 V AC	08181-93	1
Si-Fotodetektor mit Verstärker	08735-00	1
Verschiebeinrichtung, horizontal	08713-00	1
Control Unit für Si-Fotodetektor	08735-99	1
Optische Profilbank, I = 1500 mm	08281-00	1
Blendenhalter	08040-00	1
Digitalmultimeter 2010	07128-00	1
Reiter für optische Profilbank, h = 30 mm	08286-01	3
Fuß für optische Profilbank, justierbar	08284-00	2
Blende mit 3 Einfachspalten	08522-00	1
Adapter, BNC-Stecker/4 mm-Sicherheitsbuchsen	07542-26	1
Verbindungsleitung, 32 A, 500 mm, rot	07361-01	1
Verbindungsleitung, 32 A, 500 mm, blau	07361-04	1
TESS expert CD-ROM Laboratory Experiments Physics, Chemistry, Biology, Applied Sciences	16502-42	1